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多重擴增測序技術具有原理簡單、通量高的特點,是對于中等數量位點(10-50),較大樣本量(>200)的高性價比芯片數據驗證方案。本方案采用獨特的多重BSP擴增試劑與多重BSP引物設計相結合的方案,可以得到目的DMP位點或DMR區域的甲基化修飾細節,可在單堿基分辨率下分析甲基化修飾程度與甲基化單體型結果。
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